2026年7月21日，由中国电子科技集团公司第五十五研究所牵头起草的技术标准T/CASAS 076—202X《硅基氮化镓外延片射频损耗测试方法》已完成征求意见稿的编制。根据联盟标准化工作管理办法，正式面向联盟成员单位征求意见，2026年7月21日起开始征求意见，截止日期2026年8月20日。

征求意见稿已经由秘书处邮件发送至联盟成员单位；非联盟成员单位如有需要，可发邮件至casas@casa-china.cn。

征求意见标准列表

T/CASAS 076—202X《硅基氮化镓外延片射频损耗测试方法》描述了硅基氮化镓外延片射频损耗的测试原理、测试系统、测试图形制样、测试步骤和数据处理方法。

本文件适用于射频领域用硅基氮化镓外延片的射频损耗测试评估。